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基礎信息Product information
產品名稱：日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536
產品型號：
更新時間：2025-06-10
產品簡介：
專業(yè)為祖國用戶提供日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536儀器設備、測試方案、技術培訓、維修計量服務，為上海華東地區(qū)一家以技術為導向的儀器設備綜合服務商。
產品特性Product characteristics
專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent產品技術支持工程師-堅JET和吉時利KEITHLEY產品技術應用工程師-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦的以技術支持為特色的代理貿易公司，志在破舊立新！*進口儀器設備大多廠家僅在國內設銷售點，技術支持薄弱或沒有，而代理經銷商也只專做銷售，不專業(yè)做售前技術答疑/測試方案，不專業(yè)做售后使用培訓/維修校準的空白。我們的技術銷售工程師均為本科以上學歷，且均有10年以上測試行業(yè)經驗，以我們*進*的經營理念，專業(yè)為祖國用戶提供儀器設備、測試方案、技術培訓、維修計量服務，為上海華東地區(qū)一家以技術為導向的儀器設備綜合服務商。
日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536性能特點
電解電容器的電容測量：
根據JIS標準測試電解電容器，電解電容的電容值在不同測試頻率下容值差異較大，因此需要根據實際回路的工作頻率來確認電容值。
陶瓷電容器的電容測量：
陶瓷電容器可分為，隨電壓變化的高介電常數型和溫度補償型。JIS標準針對兩種陶瓷電容特性有不同的測試要求。使用LCR測試儀IM3536的頻率范圍DC,4Hz~8MHz，內置電壓范圍10mV~5V，非常適合用于以上兩種不同要求的電容測試。
電感器（線圈）的電感測量：
電感器（線圈）所具備的電感和線圈的寄生電容中將LC共振現象稱為自諧振。 將產生這種自諧振的頻率稱為自諧振頻率。在評估線圈時請在比自諧振頻率更低的頻率下測量L和Q。
測量電感器的頻率特性：
LCR測試儀IM3536的測量頻率較廣，可以設置為DC、4 Hz～8 MHz，非常適合于評估連續(xù)改變頻率的測量。在計算機中安裝附件LCR采用應用軟件（CD-R），并通過接口（USB, GP-IB, RS-232C），可以進行掃頻功能，自動測量出的測量數值能夠以Excel或CSV格式進行保存。
寬廣范圍的測量條件下，非常適用于進行研發(fā)和評估實際使用條件的LCR測試儀
寬頻率范圍的LCR非常適用于研發(fā)和評估不同工作頻率范圍下壓電元器件和線圈等的諧振頻率。推薦用于評估壓電元件和線圈的共振頻率。若使用應用軟件※則能夠簡單的對頻率、電壓和電流進行掃描和測量。
可變頻率：DC, 4 Hz?8 MHz
電壓可變：10 mV?5 V（V模式/CV模式）
電流可變：10 μA?100 mA（CC模式）
※能夠使用計算機設置掃頻（或電壓、電流），并將測量數據以CSV或Excel格式保存。應用軟件請使用標配的CD進行安裝，或從HP中下載。
連續(xù)測量功能：希望以1kHz檢查電源電感的L-Q，還想檢查直流電阻（Rdc）。這時，1臺IM3536就可以在2種測試要求下進行連續(xù)高速測試。
LCR測試儀在自動化產線中測試可靠：測試線補償
線長補償設置可設置為：0 m / 1 m / 2 m / 4 m。測試線延長時也能保證精度。
LCR測試儀在自動化產線中測試可靠：接觸檢查功能
4端子測量時，預先設置判斷測試端與被測物的接觸狀態(tài)。 測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻，并在超過所設閾值時發(fā)出報警信號。
日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536基本參數
測量模式 LCR（單一條件下測量），連續(xù)測量（保存條件下連續(xù)測量）
測量參數Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
測量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數由Z規(guī)定）
顯示范圍 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）
測量頻率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)
測量信號電平 [V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V)
[直流電阻測量]: 1 V固定
DC偏壓 發(fā)生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)
輸出阻抗 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
顯示 彩色TFT5.7英寸，觸摸屏
功能 比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發(fā)功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
接口 EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
電源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件 電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應用光盤）×1
探頭·治具
使用9268-10或9269-10時需要外接的恒壓源、恒流源。
SMD測試治具IM9100直接連接型，底部有電極SMD用，DC～8MHz，可測量樣品尺寸：0402～1005（JIS）
4端子開爾文夾9140-10，DC~200kH，50 Ω，1 m長
測試治具9261-10，線長1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可測端口直徑：0.3~1.5mm
測試治具9262，DC～8 MHz, 直接連接型
SMD測試治具9263，直接連接型, DC～5 MHz 測試尺寸: 1mm～10.0mm
DC偏置電壓單元 9268-10，直接連接型，40Hz~8MHz，大外加電壓DC±40V
DC偏置電流單元 9269-10，直接連接型，40Hz~2MHz，大外加電流DC 2A(大外加電壓DC±40V)
4端子探頭 9500-10，線長1m，DC~200kHz，50Ω，可測導體直徑φ0.3mm~2mm
SMD測試治具9677，用于側面有電極的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD測試治具9699，用于底部有電極的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺寸：寬1.0~4.0mm，高1.5mm以下
前端探針I(yè)M9901，用于更換L2001的前端的通用尺寸，L2001標配
前端探針I(yè)M9902，用于更換L2001的前端的小型尺寸
4端子探頭L2000，DC~8MHz，1m長
鑷形探頭L2001，線長73cm，DC～8MHz，50Ω，前端電極間隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
PC通訊
GP-IB連接線9151-02，2m長
RS-232C 連接線 9637，9pin-9pin，1.8m長
