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吉時(shí)利發(fā)布新型低電流測(cè)量數(shù)字源表keithley2635和2636
日期：2012-09-29瀏覽：3195次
吉時(shí)利發(fā)布新型低電流測(cè)量數(shù)字源表keithley2635和2636
美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭市2007年9月17日訊——新興測(cè)量需求解決方案的吉時(shí)利儀器公司（NYSE:KEI），今日發(fā)布了其2600系列SourceMeter® 數(shù)字源表的兩款新產(chǎn)品2635和2636，自此形成業(yè)界技術(shù)、效費(fèi)比zui高的半導(dǎo)體參數(shù)分析與測(cè)試解決方案。2635和2636采用特殊參數(shù)分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了高達(dá)1fa（10-15安）的測(cè)量分辨率，從而滿足了很多半導(dǎo)體、光電和納米器件的測(cè)試需求。此外，其基于儀器的多通道架構(gòu)相比普通的基于主機(jī)的源測(cè)量方案降低了50%的成本。通過(guò)其測(cè)試腳本處理器（TSP™）和TSP-Link™互連通信總線，測(cè)試工程師可利用2636和2635快速構(gòu)建用于技術(shù)研究、特征分析、圓片分揀、可靠性測(cè)試、生產(chǎn)監(jiān)測(cè)等多種測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)合的高速測(cè)試系統(tǒng)。
2635和2636能夠?qū)崿F(xiàn)從飛安和微伏量級(jí)到200V/1.范圍的費(fèi)比直流和脈沖測(cè)試。它們可以配合PC機(jī)或獨(dú)立工作，測(cè)試速度比普通基于主機(jī)的源測(cè)量方案快四倍。此外，每種儀器內(nèi)置一個(gè)類似于PC的微處理器，支持各種簡(jiǎn)單或復(fù)雜的測(cè)試程序（腳本）的編程與獨(dú)立執(zhí)行，包括提供信號(hào)源、測(cè)量、測(cè)試序列流程控制以及帶條件程序分支的判斷操作等。2635和2636極易與其他儀器集成構(gòu)成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，因此對(duì)于從事圓片級(jí)測(cè)試和封裝器件測(cè)試工作的元件制造商和半導(dǎo)體廠商都吸引力。同時(shí)，對(duì)于需要快速、方便地進(jìn)行器件與材料I-V特征分析的各領(lǐng)域研究人員和學(xué)者而言，其低成本優(yōu)勢(shì)十分誘人。
zui廉價(jià)的易擴(kuò)展性
對(duì)于較小和中等引腳個(gè)數(shù)的器件，或者多器件和材料樣本的測(cè)試，2635和2636能夠大大降低用戶的測(cè)試成本。它們將五種精密測(cè)量?jī)x器的功能集于一身：SMU（源測(cè)量單元）、DMM（數(shù)字萬(wàn)用表）、偏壓源、低頻脈沖發(fā)生器和任意波形發(fā)生器。所有功能都受控于TSP，從而支持在儀器內(nèi)下載與執(zhí)行*可編程的測(cè)試序列。這在增大測(cè)試產(chǎn)能的同時(shí)降低了通信與PC開(kāi)銷，*具備滿足不同測(cè)試環(huán)境需求的控制靈活性。
除了支持TSP功能外，吉時(shí)利的TSP-Link主/從連接功能還提供了一種高速、低延遲的接口，以便和其他基于TSP的儀器相互連接，實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的單臺(tái)和多臺(tái)儀器軟件控制架構(gòu)。2600系列測(cè)試系統(tǒng)一個(gè)主要優(yōu)勢(shì)在于能夠根據(jù)當(dāng)前和今后的測(cè)試需求為用戶提供方便的可擴(kuò)展性。在無(wú)需主機(jī)的情況下，多個(gè)單通道（2635）單元和雙通道（2636）單元實(shí)現(xiàn)無(wú)縫集成。該種無(wú)需主機(jī)的擴(kuò)展性能夠?qū)崿F(xiàn)每GPIB地址32個(gè)通道的系統(tǒng)規(guī)模，同時(shí)將新增通道所需的成本、機(jī)架空間和時(shí)間降至zui低限度。通過(guò)選用2600系列產(chǎn)品，用戶可以利用兩到三個(gè)經(jīng)過(guò)標(biāo)準(zhǔn)校驗(yàn)的SMU模型對(duì)多種應(yīng)用領(lǐng)域的10A脈沖或者3A直流電流進(jìn)行測(cè)試。用戶只需修改SMU執(zhí)行的測(cè)試腳本，就可重新定位SMU功能。
更短的測(cè)試時(shí)間
吉時(shí)利所有基于TSP功能的系統(tǒng)皆能存儲(chǔ)并執(zhí)行大量預(yù)定義的器件測(cè)試腳本，包括界限比較、PASS/FAIL判斷、元件分揀等。無(wú)論是否有PC機(jī)的配合，都能夠獨(dú)立完成測(cè)試工作。此外，其數(shù)字I/O端口可以直接控制探測(cè)器、機(jī)械手和其他儀器，而TSP-Link功能還允許用戶在多個(gè)通道和儀器上執(zhí)行高速的自動(dòng)化測(cè)試操作并避免GPIB通信開(kāi)銷。相比早期的定序式測(cè)試儀，測(cè)試時(shí)間減少了10倍，在元件測(cè)試方面的測(cè)試時(shí)間通常都降低了2到4倍。
2635和2636與吉時(shí)利新推出的3700系列系統(tǒng)開(kāi)關(guān)/萬(wàn)用表（也具有TSP和TSP-Link功能）結(jié)合使用時(shí)，能支持范圍更廣的高速應(yīng)用。同時(shí)，這兩個(gè)產(chǎn)品系列提供了基本的功能模塊，能夠?qū)崿F(xiàn)緊密集成的高性能開(kāi)關(guān)和多通道I-V測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)試工程師使用這些產(chǎn)品可非常方便地構(gòu)建出針對(duì)高產(chǎn)能測(cè)試優(yōu)化的低成本ATE系統(tǒng)，例如半導(dǎo)體強(qiáng)度測(cè)試和封裝器件的功能測(cè)試。
輕松的系統(tǒng)開(kāi)發(fā)
歷*，為初級(jí)研發(fā)和高速產(chǎn)品測(cè)試工作而開(kāi)發(fā)多儀器特征分析系統(tǒng)或ATE系統(tǒng)曾是一大挑戰(zhàn)。吉時(shí)利通過(guò)兩個(gè)免費(fèi)的軟件工具解決了這一問(wèn)題，大大簡(jiǎn)化了2600系列數(shù)字源表的系統(tǒng)集成。對(duì)于研發(fā)和曲線繪圖等應(yīng)用，吉時(shí)利LabTracer™ 2.0軟件能夠控制多達(dá)8個(gè)數(shù)字源表通道，無(wú)論編程與否皆能執(zhí)行器件特征分析操作。利用這種軟件，用戶可非常方便、輕松地配置每個(gè)通道，測(cè)試器件參數(shù)，繪制測(cè)試數(shù)據(jù)曲線。
對(duì)于高速生產(chǎn)測(cè)試的應(yīng)用場(chǎng)合，用戶可使用一種簡(jiǎn)單的類似于BASIC風(fēng)格的編程語(yǔ)言對(duì)測(cè)試腳本處理器進(jìn)行編程，所編寫的腳本能在儀器上實(shí)時(shí)運(yùn)行。其直觀而易于使用的界面兼容所有流行的編程語(yǔ)言。吉時(shí)利為信號(hào)掃描、脈沖發(fā)生、波形生成和常見(jiàn)的元件測(cè)試提供內(nèi)嵌測(cè)試腳本。測(cè)試儀器中包含大量測(cè)試腳本，其他一些腳本可從吉時(shí)利*http://www.keithley.com/上免費(fèi)下載。為用戶預(yù)先編寫的測(cè)試腳本可直接使用，或經(jīng)由用戶裁剪后使用，從而幫助生產(chǎn)用戶有效提高測(cè)試系統(tǒng)的執(zhí)行速度。
用戶還可通過(guò)其他方式開(kāi)發(fā)自定義的測(cè)試腳本，包括Test Script Builder的免費(fèi)編程工具，用戶能使用它提供的簡(jiǎn)單命令語(yǔ)言創(chuàng)建、修改、調(diào)試和保存TSP腳本。用戶腳本能從PC機(jī)上下載到主數(shù)字源表中，存儲(chǔ)在它的非易失性存儲(chǔ)器內(nèi)。該存儲(chǔ)器具有16MB容量，可存儲(chǔ)50000行TSP代碼和100000個(gè)讀數(shù)。研究表明，利用TSP及其相關(guān)軟件，相比前幾代定序式測(cè)試儀器，用戶的系統(tǒng)開(kāi)發(fā)時(shí)間降低了50%到75%。
吉時(shí)利2600系列儀器的優(yōu)勢(shì)還體現(xiàn)在由其ACS（自動(dòng)特征分析套件）驅(qū)動(dòng)的總控集成測(cè)試系統(tǒng)上。2600系列儀器支持?jǐn)?shù)量可擴(kuò)展的源-測(cè)量通道以及各種半導(dǎo)體應(yīng)用的高速測(cè)試，包括圓片級(jí)可靠性分析、圓片上參數(shù)化管芯分揀和自動(dòng)化特征分析。例如，需要*測(cè)量速度的測(cè)量任務(wù)（例如動(dòng)態(tài)NBTI）可以順序執(zhí)行，或者與器件級(jí)、圓片級(jí)或圓片盒一級(jí)的測(cè)試規(guī)劃并行執(zhí)行。ACS所*的靈活性以及用戶友好性實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)儀器的*控制，提供了強(qiáng)大的圓片描述工具，支持半自動(dòng)和全自動(dòng)的探測(cè)器控制功能，提高了測(cè)試過(guò)程的自動(dòng)化，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行深入分析。ACS利用2600系列的靈活性，為用戶提供了吉時(shí)利所*的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。
關(guān)于吉時(shí)利儀器公司
美國(guó)吉時(shí)利儀器公司擁有60年的測(cè)試和測(cè)量的豐富經(jīng)驗(yàn)，已經(jīng)成為涵蓋從DC（直流）到RF（射頻）先進(jìn)的電子測(cè)量?jī)x器和系統(tǒng)的行業(yè)。專為電子制造業(yè)對(duì)高性能的生產(chǎn)測(cè)試、工藝監(jiān)控、產(chǎn)品的研究與開(kāi)發(fā)方面的特殊需要與挑戰(zhàn)，提供的解決方案。憑藉在電子測(cè)試研發(fā)領(lǐng)域的優(yōu)勢(shì)，吉時(shí)利儀器公司已經(jīng)成為一個(gè)在半導(dǎo)體、無(wú)線通訊、光電器件和其它精密電子測(cè)量領(lǐng)域*的測(cè)試技術(shù)。吉時(shí)利儀器公司對(duì)客戶的核心價(jià)值在于：將先進(jìn)的精密測(cè)量技術(shù)與深入了解客戶應(yīng)用有機(jī)結(jié)合，從而幫助客戶提高產(chǎn)品質(zhì)量、產(chǎn)能與產(chǎn)量。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 美國(guó)BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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