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FOTRIC熱像儀技術規格參數指標
日期：2016-06-13瀏覽：4708次
FOTRIC熱像儀技術規格參數指標
FOTRIC225，FOTRIC226全平臺熱像儀為提升電路設計、材料測試、散熱優化、可靠性驗證等科研工作效率而設計，讓您擺脫繁瑣、耗時以及憑經驗布置采樣點的溫度數據采集方式。兼容Android、IOS*和Windows操作系統，讓您即時獲取特定區域和特定時間段的全部溫度數據，Anytime，Anywhere，Anypixel。
紅外成像
紅外分辨率 FOTRIC226型號為384 x288像素 【FOTRIC225型號為320x240像素】
視場角（FOV）28x21°
zui小成像距離（標準鏡頭）0.15m
空間分辨率(IFOV) 1.27mrad
測溫范圍 FOTRIC226型號為-20℃~650℃（-20℃~120℃，0℃~350℃,200℃~650℃) 【FOTRIC225型號為-20℃~350℃（-20℃~120℃，0℃~350℃)】
對焦方式 手動調焦
響應波長8~14um
探測器類型 焦平面陣列FPA，非制冷微熱量
熱靈敏度/NETD ＜0.05℃@30℃
測溫精度 2℃或2%，取其大值(環境溫度在10℃~35℃時)
變焦1-8倍連續數碼變焦
圖像處理
調色板 5種內置（灰白、反鐵紅、灰紅、橘黃、鐵紅）
調色板切換 手指點擊切換
圖像一致性優化 自動校準噪聲FFC/手動校準噪聲FFC
測量分析
修正設置 發射率、反射溫度、濕度、環境溫度、測試距離，透光率
發射率校正 0.01~1.0
測量模式
8個可移動點
8個可移動區域（zui高/zui低）
1條直線（zui高/zui低）
整幅zui高/zui低
等溫線（之上/之下）
測量報警
自定義溫度閥值，超溫聲音和顏色報警
圖像格式
標準JPEG，含原始溫度數據
其他功能
顯示方式 熱像、可見光、畫中畫
圖像保存模式 單一圖像、混合圖像
連拍 定時連拍和超過閾值的云報警
連拍間隔 自定義，zui快5幀/秒
全輻射熱像視頻流傳輸 通過USB將全輻射視頻流傳輸至PC
標簽識別 二維碼和條形碼掃描，自動為熱像圖命名
注釋 語音和文本注釋
GPS GPS位置信息
USB 與PC進行數據交互
Wifi 無線分享
流量卡 遠程實時共
電源
電池類型 可充電鋰電池
電池工作時間 10小時
充電系統 交流電源適配器
物理參數
工作海拔 2000米以下
工作溫度 -20℃~+50℃
存儲溫度 -20℃~+50℃
濕度 ＜90%RH
封裝 IP40
抗撞擊 25g，IEC 60068-2-29
抗震動 2G，IEC60068-2-6
電磁兼容性
電磁兼容性
EMC
EN 61000-6-2:2001(抗干擾)
EN 61000-6-3:2001(抗輻射)
FCC 47 CFR Part 15 Class B(抗輻射)材料 鋁合金
三腳架安裝孔UNC1/4-20
重量690g
尺寸131*67.5*83.5mm
充電電源 12VDC充電
軟件 FOTRIC AnalyzIR，FOTRIC InnovatIR
FOTRIC225，FOTRIC226全平臺熱像儀標準配置和選配件
紅外熱像儀主機
紅外鏡頭f=13mm
電源適配器
安卓手機
USB轉micro USB OTG線（左彎/右彎）
USB轉micro USB OTG線（彎角）
USB轉USB彎角線
手腕帶
入門手冊
軟件U盤（含用戶手冊）
校準證書
出廠檢驗報告
保修卡
合格證
裝箱單
硬質便攜箱
可選研發測試臺 FOTRIC 220-B1研發測試臺
可選鏡頭（一臺設備zui多可搭配3個鏡頭）
FOTRIC 220-M50微距鏡（測溫范圍：0~120℃）
FOTRIC 220-M100微距鏡（測溫范圍：0~120℃）
FOTRIC 220-L15長焦鏡
FOTRIC 220-L47廣角鏡
FOTRIC225，FOTRIC226全平臺熱像儀鏡頭系列
Fotric 220-M50微距鏡分辨能力50微米。用于細小物體，如芯片、新材料、局部組織等的溫度分布觀察。
Fotric 220-M100微距鏡分辨能力為100微米。用于細小物體，如芯片、新材料、局部組織等的溫度分布觀察。搭配Fotric 226全平臺熱像儀使用。
Fotric 220-L47廣角鏡可以讓我們在限定距離獲得更大觀察視野。適合近距離大成像。
Fotric 220-L15長焦鏡可以讓您看清更遠物體的溫度分布。適合觀察遠距離目標或無法接近的小目標。研發測試臺系列
FOTRIC 220-B1研發測試臺為在線和長期不間斷測試的研發活動而設計的穩定支撐平臺。測試臺架將被測對象和Fotric熱像儀組成一套專業的測試系統。
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 美國BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創DEWETRON
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